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OPTACOM致力于各行业领域的实验室或工作现场精密轮廓粗糙度测量需求，为您提供各种类型的轮廓形貌扫描测量仪或精密轮廓粗糙度综合测量仪。仪器参数符合ISO、DIN、JIS、EN等各类标准。CNC全自动X、Z轴采用全程大量程高精度光栅尺，选配上下双向测针，Y轴自动工作台同时可测量旋转类工件内外径几何尺寸(自动锁定拐点测直径)，内外轮廓形貌等。再选配分度头装夹工件，可测量圆度、圆柱度及不同截面的复杂几何尺寸。
OPTACOM轮廓粗糙度仪主要特点：
◆仪器主体结构采用轻型耐用的航空合金材料
◆ X轴与Z轴采用独立机械系统，可同时实现X&Z双轴全量程范围内连续扫描，并保持针尖分辨率恒定
◆ X轴与Z轴采用独立整体光栅系统
◆ THK*供给的超精密线性导轨
◆ 非接触式增量光栅的测量系统，密闭式的设计可zui大程度降低磨损和提高读数可靠性
◆ 轻型高强度碳纤维聚合物测量臂
◆ 电子反馈测力机构
◆ 快速装卸测针装置，可自定位
◆ 操纵杆全自动控制测量
OPTACOM轮廓粗糙度仪
http://www.wyler-bluelevel.com/Products-33710773.html
https://www.chem17.com/st433827/product_33710773.html
OPTACOM轮廓粗糙度仪